本网讯 近日，全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）暨半导体分立器件标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC1）四届二次会议在浙江绍兴召开，全体标准化技术委员会委员、观察员及承担标准项目单位代表共102人参加了本次年会，我院张东徽博士作为委员会委员参加了会议。会议为期两天，主要议程是审议标委会2023年工作报告，并按流程进行国家标准的审查、宣贯工作。
会议由半导体分立器件分标委秘书长陈海蓉主持，半导体器件标准化技术委员会主任委员陈大纪和秘书处承担单位中国电子科技集团第十三研究所何庆国副总工程师分别致辞。
会议中，相关申报单位介绍了半导体器件能量收集和产生半导体器件第1-7部分、半导体器件柔性可拉伸半导体器件第6部分：柔性导电薄膜的薄膜电阻测试方法等国家标准启动项目的情况，汇报了进入标准立项清单的半导体器件第18部分半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器校准的测试方法和数据分析等三项国家标准和四项行业标准的工作进展。会议审查了1项国家标准：半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估。
浙江省、绍兴市及绍兴滨海新区政府相关负责同志介绍了本地区集成电路产业的发展现状和优厚的产业扶持政策。现场举行了绍兴集成电路质量基础设施一站式服务平台入住签约仪式。随后标准化技术委员会组织参观了长电集成电路（绍兴）有限公司和绍兴集成电路制造股份有限公司。(文：张东徽；审核：戈慈水 )
